產(chǎn)品名稱:二手 日本電子 JSM-7610F plus場發(fā)射電鏡
產(chǎn)品型號:
更新時間:2025-03-07
產(chǎn)品特點:二手 日本電子 JSM-7610F plus場發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡,其核心原理基于場發(fā)射電子源和電子光學系統(tǒng)。場發(fā)射電鏡利用強電場作用,使得電子通過量子隧道效應逸出,形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源,具有更高的亮度和更小的電子束直徑,從而實現(xiàn)更高的分辨率。
產(chǎn)品詳細資料:
二手 日本電子 JSM-7610F plus場發(fā)射電鏡 掃描電子顯微鏡被廣泛應用在納米技術(shù)、金屬、半導體、陶瓷及醫(yī)學生物學等各種各樣領(lǐng)域里,而且它的用途越來越廣。為了對應在高分辨條件下的材料微細結(jié)構(gòu)解析,提高JSM-7610F的分辨率,對電子光學系統(tǒng)做了重新研究。半浸沒式物鏡和大電流下高穩(wěn)定性的in-lens熱場發(fā)射電子槍的wan美組合,使得該設(shè)備兼具超高分辨率觀察和高空間分辨率分析的能力。
二手 日本電子 JSM-7610F plus場發(fā)射電鏡主要特點
1.具有高分辨能力的半浸沒式物鏡(Semi-in-lens)
半浸沒式物鏡能將電子束收縮的很細,即使在低加速電壓下也能實現(xiàn)高分辨。
2.采用GENTLEBEAM™模式,低加速電壓下的Z表面觀察
GENTLEBEAM™模式(GB mode)是通過給樣品加以偏壓使得電子束在到達樣品前減速的功能來實現(xiàn)低加速電壓下的有效觀察和分析。
3.r-filter信號選擇
通過r-filter選擇樣品上產(chǎn)生的二次電子和背散射電子信號進行檢測。
4.LABE探頭(可選件)檢測低角度背散射電子像
LABE(Low Angle BE)探頭檢測低角度的背散射電子,在低加速電壓下能觀 察樣品表面的微細的凹凸信息,在高加速電壓下能觀察樣品的組成信息.
5.High Power Optics高能光學系統(tǒng)
大電流下高穩(wěn)定性的in-lens熱場發(fā)射電子槍和全電流范圍內(nèi)自動優(yōu)化束徑的ACL的wan美組合,能夠進行穩(wěn)定的觀察和分析.
主要技術(shù)規(guī)格
分辨率(SEI) | 0.8nm(15kV) |
倍率 | ×25~×19,000(LM模式) |
加速電壓 | 0.1kV~30kV |
照射電流 | 數(shù) pA~200nA |
電子槍 | In-lens熱場發(fā)射電子槍 |
本公司售后服務保障
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