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二手高分辨率場發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像，廣泛用于生物學、醫(yī)學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。

二手場發(fā)射顯微鏡SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區(qū)點線面元素的定性、半定量及定量分分析，具有形貌、化學組分綜合分析能力。

二手場發(fā)射電鏡，二手SEM場發(fā)射掃描電鏡通用性強，可廣泛應用于納米材料、金屬材料、半導體材料、化學化工、醫(yī)學及生物學領域，可高效觀察包括非導體樣品及強磁性樣品等。

二手日立場發(fā)射電鏡：貨供應二手掃描電鏡,二手場發(fā)射電鏡,二手透射電鏡 S-9300，S-9380，S-806C，H-7100，S-4700，S-4200，S-4160，S-3000N，S-2700，S-2400，TM-1000；臺式，桌面式 Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope

二手電鏡JSM-6510 功能/應用范圍：應用于無機材料、高分子材料、復合材料、納米材料、半導體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結構觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質分析 ? 微區(qū)成份分析；材料分析，檢測機構，研發(fā)企業(yè)。